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X-MET3000TXR+ - 新型RoHS檢測手持式XRF光譜儀

發(fā)布日期：2008-08-24 瀏覽次數(shù)：3598

牛津儀器發(fā)布了新型號的X-Met3000TXR+，它是一款快速、輕便的手持式XRF光譜儀。

使用X-Met可以進(jìn)行ROHS篩選性分析，它具有強(qiáng)大的測量時(shí)間開關(guān)控制功能，能夠快速地定量分析數(shù)據(jù)結(jié)果，并自動判別管制標(biāo)準(zhǔn)，以不同色彩加以識別，減少了人為誤判，為客戶提供*的測量工具。

手持式XRF分析儀是專門針對歐盟ROHS指令中有害元素-鎘（Cd），汞（Hg），六價(jià)鉻（Cr⁶⁺），多溴聯(lián)苯（PBB），多溴聯(lián)苯醚（PBDE）的篩選性分析儀。中國政府ROHS指令將在2007年3月1日正式生效，美國一些州的環(huán)境條例也正在準(zhǔn)備實(shí)施，這款儀器在檢測有害物質(zhì)方面的巨大改進(jìn)正及時(shí)滿足市場的需求。

新的儀器采用了的帕爾帖PentaPIN^TM探測器 –牛津儀器PentaFET^TM探測技術(shù)，它快速測量各種被測元素并提高其檢測下限。在我們樣品分析過程中總能碰到一些特殊的樣品，由于其高規(guī)格的限制標(biāo)準(zhǔn)，比如鎘元素，更低的探測下限是無法替代的。X-MET3000TXR+不但能做到這點(diǎn)，同時(shí)裝備的時(shí)間控制開關(guān)，能夠滿足對這些ROHS樣品分析過程中長時(shí)間的分析要求，為客戶提供更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)結(jié)果。

對于 PentaPIN^TM 探測器來說，傳統(tǒng)的硅（Si-PIN）探測器，三十秒測量一個(gè)樣品所能達(dá)到的精度，新的探測器只需十秒就能同樣達(dá)到，大大減少了測量時(shí)間。對于塑料樣品的測量，能降低背體雜訊的吸收，相應(yīng)增長其他元素的吸收率，改善了ROHS限制元素的檢測下限。尤其針對鉛和鎘的探測下限，有著成倍的提高，其它元素也有了顯著的改善。新的機(jī)型安裝了的操作軟件，用以處理新的探測技術(shù)所帶來的全新數(shù)據(jù)處理，大大提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

X-MET3000TXR+操作界面十分完整，針對ROHS分析，為使用者提供了塑料、金屬和復(fù)合樣品的不同分析方法。同時(shí)分析數(shù)據(jù)可用不同色彩加以標(biāo)識，方便檢測員快速判定樣品是否合格還是不合格。在我們提供版本軟件中，已添加了多種操作語言，比如，中文、俄語、德語、法語等多種語言供客戶選擇。

在樣品分析過程中，客戶所關(guān)心的輻射安全問題，牛津儀器可提供一種超大樣品室同時(shí)具備安全鎖桌面式的支架，供客戶選擇。當(dāng)您在分析樣品，X—MET3000TXR+就處于一種相對封閉空間，起到一種屏蔽作用，從實(shí)質(zhì)上改善了X-射線對人體輻射的問題。

牛津儀器工業(yè)分析部Oxford Instruments Industrial Analysis

牛津儀器公司在XRF分析技術(shù)領(lǐng)域擁有超過35年經(jīng)驗(yàn)，至今已有數(shù)以萬計(jì)的各種儀器在世界各地服務(wù)于各行各業(yè)。這些儀器可以廣泛地用于工業(yè)質(zhì)量控制部門。XRF分析系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)各種材料（固體、液體、粉末、糊狀物、油脂、薄膜等）中元素組成的快速、無損檢測。同時(shí)，也可實(shí)現(xiàn)樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。

手持式XRF分析儀和移動式直讀光譜儀ARC-MET是對現(xiàn)場合金分類及PMI測試、ROHS中有害元素的檢測、質(zhì)量控制尤為重要的工具。

Lab-X、Twin-X、ED2000 以及MDX1000各種XRF光譜儀應(yīng)用于各種不同領(lǐng)域產(chǎn)品的日常分析。比如，石油產(chǎn)品的硫含量的分析，水泥中鈣含量，我們都能提供可靠性能超群的光譜儀來滿足您的分析需求，因?yàn)槲覀兙邆涠囝惍a(chǎn)品共性選用。

對于各種不同薄膜的厚度測量要求，牛津儀器不但您提供各種不同型號的磁感和渦流的手持式測厚儀，同時(shí)還有各類高性能的XRF測厚儀。當(dāng)前我們就推出款*的XRF測厚儀X-Strata 960，供您選擇。

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